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顯示器薄膜測量儀*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
更新時(shí)間：2024-11-09
型號(hào)：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
廠商性質(zhì)：代理商
瀏覽量：545
FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備，專門用于快速、準(zhǔn)確和無損測量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。
更新時(shí)間：2024-11-09型號(hào)：FR-Ultra廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：995
FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統(tǒng)。
更新時(shí)間：2024-11-09型號(hào)：FR-ES廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：1068
FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備，專門用于快速、準(zhǔn)確和無損測量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。
更新時(shí)間：2024-11-09型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：1417
顯示器薄膜測量儀*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
更新時(shí)間：2024-11-09型號(hào)：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：1799
硅片厚度測量儀采用的是近紅外光(NIR)來測量膜層厚度，因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導(dǎo)體膜層) 。
更新時(shí)間：2024-11-09型號(hào)：Filmetrics F3-sX廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：2994